Bu sistem, yivli-setli namlu boyunca yiv dönüşü ve namlu ağzındaki çıkış açısı gibi tasarım parametrelerini doğrulamak amacıyla kullanılan bir tezgahtır. Helisel yapıda değişen yiv pozisyonlarını ölçer. Sabit hatve, eksponansiyel, parabolik veya kübik parabolik değişken hatve yapılarına sahip namlu yiv açma fonksiyonlarının dar tolerans açı değerlerinde kontrolü bu sistemle gerçekleştirilmektedir. Namlu içindeki yiv yapısına tam oturan, çift encoder’lı takipçi bir başlık, sabit ve değişken hatveli yiv profili kanallarında ilerlerken hassas dönme açısı verilerini toplar ve bu verileri, namlu imalat kalite kontrolü amacıyla grafiklere dönüştürür. Grafik formatındaki tablo gösterimi ile tasarım toleransları dahilinde, namlu uzunluğuna göre yiv açı değerlerini gösteren yiv profil ölçüm raporu, bir USB bellek aracılığıyla sistemden alınabilmektedir.

• Ölçme Çapı : 20 - 25 - 30 mm kalibreler (Sistem, 18 - 203 mm kalibre gereksinimlerine uyarlanabilir.)
• Ölçme Uzunluğu : Azami. 2000 mm, (Daha uzun namlu boylarına da uyarlanabilir.)
• Ölçme Hızı : Ayarlanabilir (1-10000 mm/dakika)
• Çözünürlük : Doğrusal 0.025 mm (mikron), Açısal 0,0450 (2’)
• Ekran : 15’ Dokunmatik
• Kütle : 1400 kg
• Boyutlar : U4200 x G650 x Y1200 (namlu takılmadan)
• Güç Gereksinimi : 220 VAC
• Sabit Namlu Bağlama
• Yarı-Temasla Takipçi Yiv-Set Hizalaması
• Kullanıcı Dostu Arayüz